Pourquoi faire le choix du Microscope Electronique à Balayage ?

Le MEB permet d’observer les modifications morphologiques tri-dimentionnelles et les états de surface d’échantillons massifs.

Schéma d'un microscope électronique à balayage (source : Dr Guillaume Wille BRGM).

Les applications sont nombreuses :

• L’évaluation de la qualité de la découpe de cornée au laser
• L’évaluation des effets des produits cosmétique sur les cheveux
• L’expertise d’états de surface de pièces métalliques traitées chimiquement ou de dispositifs médicaux

Sur le plan technique :

Le CMES est équipé d’un MEB HITACHI S 3000N.

La gamme de valeur de tension d’accélération des électrons se situe entre 0,30KV et 30KV. Le grandissement maximal est de 100 000X.

Trois détecteurs d’électrons sont disponibles :

• Un détecteur d’électrons secondaires (SE) le plus classiquement utilisé et destiné aux échantillons naturellement conducteurs ou métallisés.
• Un détecteur d’électrons rétro-diffusés (BSE) pour les échantillons amorphes, hydratés ou conducteurs
• Un détecteur d’électrons secondaires environnementaux (ESED), échantillons à l’état naturel, amorphes, hydratés

Ils fonctionnent selon deux modes : un mode haut vide et un mode de pression contrôlée.

Il est possible de combiner les conditions de pression et les détecteurs.

Mèche de cheveux

Cornée

Le MEB est également équipé d’un détecteur EDS pour la microanalyse X (Ultra Dry THERMO-Scientific).

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